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Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications (en Inglés)
Yongke Sun
(Autor)
·
Scott E. Thompson
(Autor)
·
Toshikazu Nishida
(Autor)
·
Springer
· Tapa Blanda
Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications (en Inglés) - Sun, Yongke ; Thompson, Scott E. ; Nishida, Toshikazu
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Reseña del libro "Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications (en Inglés)"
Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications presents the fundamentals and applications of strain in semiconductors and semiconductor devices that is relevant for strain-enhanced advanced CMOS technology and strain-based piezoresistive MEMS transducers. Discusses relevant applications of strain while also focusing on the fundamental physics pertaining to bulk, planar, and scaled nano-devices. Hence, this book is relevant for current strained Si logic technology as well as for understanding the physics and scaling for future strained nano-scale devices.
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El libro está escrito en Inglés.
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