Name: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit Pspice (en Alemán)
Price: 55.92 USD
Availability: InStock
Author: Peter Baumann
ISBN: 9783658438203

portada Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit Pspice (en Alemán)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer Vieweg

Autor

Peter Baumann

Idioma

Alemán

N° páginas

262

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9783658438203

N° edición

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit Pspice (en Alemán)

Peter Baumann (Autor) · Springer Vieweg · Tapa Blanda

Libro Nuevo

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Reseña del libro "Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit Pspice (en Alemán)"

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschlie ende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen.